SEM Specimen Stubs — Nhôm là loại đế gắn mẫu tiêu chuẩn được sử dụng phổ biến trong kính hiển vi điện tử quét (SEM). Được gia công từ nhôm nguyên khối (free-cut aluminium), sản phẩm có khả năng dẫn điện tốt, trọng lượng nhẹ, giúp giảm nhiễu nền và đảm bảo độ ổn định cơ học cao trong suốt quá trình phân tích.

Stub nhôm có nhiều kích thước tiêu chuẩn, phổ biến là đường kính 12,5 mm có thể tùy chỉnh, và có thể chọn dạng mặt phẳng (flat) hoặc hõm (dished) tùy theo yêu cầu cố định mẫu. Bề mặt stub được gia công chính xác để đảm bảo tiếp xúc tốt với mẫu và hạn chế tích điện cục bộ.

Ưu điểm nổi bật:

• Vật liệu nhôm tinh khiết, dẫn điện tốt, tản nhiệt nhanh.

• Gia công chính xác, độ phẳng cao, dễ thao tác.

• Dạng flat hoặc dished phù hợp nhiều loại mẫu.

• Tương thích với các hệ SEM của JEOL, Hitachi, Zeiss, FEI, TESCAN, LEO, Cambridge,…

• Có thể kết hợp với băng dẫn điện carbon tape, silver paint để tăng hiệu quả tiếp xúc điện.