SEM Specimen Stubs — Carbon (Carbon Stubs) của Agar Scientific (UK) được thiết kế dành cho các ứng dụng kính hiển vi điện tử quét (SEM) và phân tích phổ tán sắc năng lượng (EDX/EDS), nơi cần giảm nhiễu nền và tín hiệu can nhiễu từ vật liệu đế.

Sản phẩm được chế tạo từ carbon dẫn điện tinh khiết, giúp loại bỏ ảnh hưởng phổ nguyên tố của nhôm trong quá trình đo EDX, đồng thời đảm bảo dòng điện tản đều, tránh hiện tượng tích điện trên mẫu. Stub carbon đặc biệt phù hợp cho các mẫu phi kim, polymer, composite, hoặc mẫu nhạy electron.

Các stub có kích thước tiêu chuẩn 12,5 mm với lựa chọn bề mặt phẳng (flat) hoặc hõm (dished), tương thích với hầu hết các hệ SEM phổ biến như JEOL, Hitachi, FEI, Zeiss, TESCAN, Cambridge,...

Ưu điểm nổi bật:

• Giảm nhiễu nền và sai lệch phổ EDX khi phân tích.

• Carbon tinh khiết, dẫn điện tốt, ổn định trong chân không cao.

• Lý tưởng cho mẫu phi kim, vật liệu nhạy electron.

• Dạng flat hoặc dished, đường kính 12,5 mm tiêu chuẩn.

• Tương thích đa hệ SEM, dễ lắp đặt và thao tác.