Đế Gắn Mẫu SEM (SEM Specimen Stubs)
Stub gắn mẫu SEM bằng carbon dẫn điện cao, giảm nhiễu nền và nhiễu phổ EDX, phù hợp các mẫu nhạy electron và vật liệu phi kim.
Trong phân tích Kính hiển vi điện tử quét (SEM) và phân tích phổ tán sắc năng lượng tia X (EDS/EDX), Đế gắn mẫu (Specimen Stubs) là một trong những thành phần cơ bản và quan trọng nhất. Một đế gắn mẫu đạt chuẩn phải đảm bảo khả năng tương thích hoàn hảo với bệ máy (Stage), dẫn điện tốt để tránh tích điện (charging), và cung cấp một nền tảng vững chắc để định vị mẫu vật ở nhiều góc độ khác nhau.
Chúng tôi cung cấp một danh mục đồ sộ các loại Đế gắn mẫu SEM được gia công chính xác, đáp ứng mọi cấu hình kỹ thuật cho các dòng máy phân tích hàng đầu thế giới bao gồm: JEOL, Hitachi, LEO/Zeiss, FEI/Philips, CamScan, Tescan, ISI/ABT/Topcon, và Cambridge Analysis.
Được gia công từ nhôm chất lượng cao với nhiều biến thể:
Pin Stubs (Đế dạng chốt): Là tiêu chuẩn của Châu Âu và Mỹ (dùng cho LEO/Zeiss, FEI/Philips, CamScan, Tescan). Có nhiều kích thước đường kính (12.5mm, 12.7mm, 25mm, 32mm) và chiều dài chốt (Pin length) khác nhau (6mm, 8mm, 9.5mm, 15mm) để phù hợp với từng thiết kế buồng mẫu.
Cylinder Stubs (Đế hình trụ): Thường không có chốt, thiết kế dạng khối trụ phẳng, là tiêu chuẩn đặc trưng của hệ thống JEOL.
M4 Threaded Stubs (Đế ren M4): Dưới đáy có lỗ ren M4, thiết kế chuẩn mực dành riêng cho các dòng máy Hitachi.
Re-entrant Base: Thiết kế đặc thù cho các hệ thống phân tích cũ của Cambridge Analysis.
Trong phân tích vi phân tích EDS/EDX, tín hiệu tia X từ đế nhôm có thể tạo ra các đỉnh nhiễu (background radiation peaks) trùng lấp với tín hiệu của mẫu vật. Đế Carbon (Spectroscopically pure carbon stubs) là giải pháp triệt để:
Vật liệu carbon siêu tinh khiết gần như "trong suốt" với tia X, triệt tiêu hoàn toàn bức xạ nền không mong muốn.
Lý tưởng cho việc quan sát bề mặt có phát xạ thấp hoặc phân tích các nguyên tố nhẹ.
Có sẵn các tùy chọn góc nghiêng và đường kính phù hợp cho JEOL, Hitachi và các hệ máy dùng Pin stub.
Angled Stubs (Đế vát góc): Có sẵn các góc vát 36°, 38°, 45°, 70°, và 90°. Đặc biệt hữu ích cho ứng dụng EBSD (Nhiễu xạ điện tử tán xạ ngược) cần mẫu nghiêng 70°, hoặc FIB (Focussed Ion Beam) cần giảm thiểu khoảng cách làm việc (Working Distance).
SEMClip™ Mounts: Đế có tích hợp sẵn các ngàm kẹp (clips) bằng hợp kim beryllium-copper đàn hồi. Giải pháp tuyệt vời để giữ chặt các mẫu vật dạng tấm mỏng (như wafer silicon) mà không cần dùng keo dính hay băng keo carbon.
Deben Coolstage & Environmental Stubs: Dành cho các hệ thống hiển vi điện tử môi trường (ESEM) hoặc sử dụng bệ làm lạnh (Cryo/Coolstage).
Để chọn đúng loại Stub, kỹ sư cần xác định hãng máy Kính hiển vi đang sử dụng:
Hitachi Users: Bắt buộc sử dụng đế có lỗ ren M4 Thread (Ví dụ: AGG3313, AGG3318) hoặc dùng Stub Adaptors chuyển đổi.
JEOL Users: Sử dụng đế hình trụ Cylinder stubs (Đường kính 10mm, 12.5mm, 15mm, 25mm, 32mm, 50mm).
ZEISS / LEO Users: Sử dụng Pin Stubs, đặc biệt chú ý dòng FESEM của Zeiss thường yêu cầu chốt ngắn (Short Pin - 6mm) (Ví dụ: AGG301F, AG16111-9).
FEI / Philips / Tescan Users: Sử dụng Pin Stubs tiêu chuẩn với chiều dài chốt thường là 8mm hoặc 9.5mm (Ví dụ: AGG301A, AGG3164).
