Kính hiển vi siêu âm Nordson Sonoscan Gen 7 – Công nghệ C-SAM thế hệ mới

Kính hiển vi siêu âm Nordson Sonoscan Gen 7 là thế hệ mới nhất của công nghệ C-SAM® (C-Mode Scanning Acoustic Microscope), mang lại giải pháp kiểm tra không phá hủy (NDT) với độ chính xác vượt trội. Thiết bị hỗ trợ phân tích cấu trúc nội bộ linh kiện điện tử, bán dẫn và vật liệu công nghiệp với độ phân giải hình ảnh lên đến 32K × 32K. Gen 7 được trang bị phần mềm Sonolytics™ 2, cùng các tính năng tiên tiến như PolyGate™, SonoSimulator™, VRM và FDI, giúp quét nhanh, xử lý dữ liệu mạnh mẽ và phân tích chuyên sâu. Với vùng quét lớn 350 × 350 mm, tần số đầu dò 5–230 MHz và độ chính xác cao, Gen 7 lý tưởng cho R&D, phân tích lỗi và kiểm tra chất lượng sản xuất