Kính hiển vi siêu âm Nordson AMI DF2400
Scanning Acoustic Microscope
Kính hiển vi siêu âm Nordson AMI DF2400 – Giải pháp kiểm tra không phá hủy hiệu suất cao
Kính hiển vi siêu âm Nordson AMI DF2400 là hệ thống C-SAM® hiệu suất cao, được thiết kế cho kiểm tra không phá hủy (NDT) trong môi trường sản xuất linh kiện điện tử. Thiết bị nổi bật với khả năng quét song song hai module hoặc khay JEDEC, giúp tăng tốc độ kiểm tra mà vẫn duy trì độ phân giải lên đến 286 Megapixel (16K). Công nghệ WaterFall™ cho phép quét không ngâm, PolyGate™ hỗ trợ tối đa 100 độ sâu, cùng khả năng phân tích dữ liệu tự động chấp nhận/từ chối. DF2400 dễ dàng tích hợp với MES, SECS-II/GEM, SMEMA, mang lại giải pháp tối ưu cho kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi trong sản xuất điện tử hiện đại.
Quét không ngâm bằng đầu dò WaterFall™.
Hỗ trợ PolyGate™ với tối đa 100 độ sâu.
Quét nhanh, dưới 6 phút mỗi lần.
Phân tích dữ liệu tự động, chấp nhận/từ chối.
Kết nối dễ dàng với MES, SECS-II/GEM, SMEMA.
Độ phân giải: Lên đến 286 Megapixel (16K).
Độ chính xác X-Y-Z: ±0.5 µm.
Khay quét: Hai module hoặc khay JEDEC.
Phần mềm điều khiển: Sonolytics™ 2 (Windows 7).
Chế độ quét: Reflection, Thru-Scan™, ROI.
Tính năng sấy khô: Khoang sấy riêng, 4 dao khí + tùy chọn gia nhiệt.
