NudgeInspect cung cấp dịch vụ AFM, bao gồm quét 2D đo mô đun đàn hồi (elastic modulus) của các multilayer polymer film stack.

Giới thiệu:

• AFM đo hình thái bề mặt (surface topography) của vật liệu với độ phân giải theo chiều cao sub-nanomet (sub-nm vertical resolution).

• Kỹ thuật này cho phép thu thập dữ liệu nhanh chóng, với các phép quét đơn giản chỉ mất vài phút để hoàn thành.

• Chế độ LIVE VIEW giúp quan sát trực tiếp bề mặt mẫu trong quá trình quét.

AFM là công cụ lý tưởng để:

• Phân tích bề mặt và độ nhám

• Đo các đặc tính cơ học tại cấp nano, như mô đun đàn hồi

• Nghiên cứu màng mỏng, multilayer polymer, vật liệu tiên tiến và nano-materials

• Độ phân giải chiều cao tốt nhất – Vượt trội so với các kỹ thuật khảo sát địa hình bề mặt khác.

• Độ phân giải ngang cao – Sử dụng các mũi cantilever chuyên dụng để quan sát chi tiết bề mặt.

• Thu thập dữ liệu nhanh – Có thể chụp ảnh bề mặt chỉ trong vòng 10 phút.

• Đa dạng đầu dò lực (force probes) – Bao gồm điện, từ, piezoelectric, hỗ trợ các chế độ phân tích nâng cao.

• Phạm vi quét hạn chế – Kích thước quét tối đa là 100 µm x 100 µm.

• Độ nhám bề mặt giới hạn – Bề mặt mẫu phải nhẵn, độ nhám < 10 µm.

• Đặc tính đầu dò (tip) ảnh hưởng kết quả – Kích thước, hình dạng và độ sạch của tip cantilever có thể làm mờ hoặc sai lệch dữ liệu.

AFM tại NudgeInspect sử dụng Bruker Nano Dimension kết hợp với các đầu quét Icon và FastScan:

• Icon scanner: Độ nhiễu cực thấp và độ chính xác cao, tối ưu cho các phép đo chi tiết và phân tích tinh vi.

• FastScan scanner: Cho tốc độ quét cao, phù hợp khi cần thu thập dữ liệu nhanh mà vẫn giữ độ phân giải cao.

Thiết bị Nano Dimension AFM của Bruker cung cấp:

• Dễ sử dụng và giao diện trực quan

• Hình ảnh và phân tích độ phân giải cao

• Hiệu suất quét nhanh cho các mẫu đa dạng

AFM sử dụng một cantilever với đầu tip siêu nhọn quét theo dạng raster trên bề mặt mẫu. Tip có thể tiếp xúc liên tục hoặc gián đoạn với bề mặt, tương tác với mẫu thông qua lực đẩy hoặc lực hút giữa các nguyên tử (inter-atomic forces).

Cơ chế đo lường:

1. Chùm laser được phản xạ từ mặt sau của cantilever lên bộ detector.

2. Khi cantilever quét, detector giám sát sự lệch của chùm laser.

3. Vị trí Z của cantilever sẽ di chuyển lên hoặc xuống để duy trì độ lệch chùm laser ổn định, từ đó xác định chiều cao bề mặt (vertical height).

Chế độ quét nâng cao:

Các chế độ quét thay thế cho phép hình ảnh hóa và đo lường các tính chất vật liệu khác, bao gồm:

• Độ bám (adhesion)

• Mô đun đàn hồi (modulus)

• Phân bố điện tích (charge distribution)

• Miền từ (magnetic domains) và nhiều tính chất khác